近年来透射电镜上的能谱技术又有了较大的发展,尤其是电制冷能谱的推出使能谱的使用更加方便。牛津仪器凭借多年的产品研发经验已经成功的发布了透射电镜大面积电制冷能谱X-Max80。为了加强用户和厂家之间的沟通、加强用户之间的相互交流、更好地发挥大面积电制冷能谱在纳米材料分析上的优势和应用,我们特在2012年5月3日在中国科技大学举办“2012年度牛津仪器透射电镜能谱技术研讨会”。期间我们会安排有关教授及厂家技术专家的报告。
具体时间: 2012年5月3日 星期四
日程安排: 上午9:00 - 12:00
午餐 12:00 – 14:00
下午 14:00 – 16:00
开会地点: 中国科技大学西区(安徽省合肥市黄山路)力四楼
研讨会日程安排
9:00 |
签到 |
9:30 |
电制冷能谱技术及发展 冯骏先生 牛津仪器中国区销售经理 |
10:00 |
牛津仪器最新能谱技术X-Max TEM及应用 焦汇胜博士 牛津仪器应用专家 |
10:50 |
茶歇 |
11:00 |
STEM EDS Mapping技术及其在纳米材料异质结构表征中的应用 龚明教授 中国科技大学 |
11:40 |
午餐 |
2:00 |
演示实验 |
4:00 |
结束 |